Charakterizace povrchů a tenkých vrstev
8. Elektronová spektroskopie (II)
Tato kapitola detailně popisuje nejdůležitější diagnostické metody založené na elektronové spektroskopii - XPS, AES a EELS.
The most used chemical analysis methods like XPS, AES and EELS are described in this part of the 8th chapter. Also the manipulation of data is described.
8.5 Spektroskopické značení fotoemise / Spectroscopic photoemission of electronic states
8.6 Augerovská elektronová spektroskopie / AES (Auger Electron Spectroscopy)
8.7 Rentgenovská fotoelektronová spektroskopie / XPS (X-ray Electron Spectroscopy)
8.8 Spektroskopie ztrát energie elektronů / EELS (Electron Energy Loss Spectroscopy)
8.9 Spektroskopie prahových potenciálů / Threshold techniques
Chyba: Odkazovaný objekt neexistuje nebo nemáte právo jej číst.
https://is.muni.cz/el/1431/jaro2010/F7360/um/31410635/8.2en.pdf
Chyba: Odkazovaný objekt neexistuje nebo nemáte právo jej číst.
https://is.muni.cz/el/1431/jaro2010/F7360/um/31410639/8.2cs.pdf
Chyba: Odkazovaný objekt neexistuje nebo nemáte právo jej číst.
https://is.muni.cz/el/1431/jaro2010/F7360/odp/Elektronova_spektroskopie.qdesc