Elektrický potenciál http://t3.gstatic.com/images?q=tbn:ANd9GcQFDfAAFoi60Efgs13ZtjwM8kYt6ihgRd9thzlQmHU_XfTfXKGoxw Více o elektrickém poli konzervativnost elektrické síly Více o elektrickém poli práce elektrické síly … práce elektrické síly … práce vnější síly Více o elektrickém poli potenciální energie, potenciál potenciál a napětí … elektrický potenciál … elektrické napětí mezi body 2 a 1 jednotky potenciálu a napětí (1 Volt) … intenzita elektrického pole Volta's "artificial electrical organ" that provided the necessary power for many of the nineteen century discoveries Alessandro Volta (1745-1827) elektronvolt práce vnější síly při přenesení elektronu mezi body s potenciálovým rozdílem 1V File:Crookes tube-in use-lateral view-standing cross prPNr°11.jpg ekvipotenciální plocha •množina bodů se stejným potenciálem •vždy kolmá k siločarám potenciál vždy klesá ve směru orientace siločar kontrola příklady prace potenciál pole bodového náboje potencial dipol princip superpozice: potenciál soustavy bodových nábojů potencial dipol potenciál pole elektrického dipólu potenciál pole spojitě rozloženého náboje potenciál rovnoměrně nabitého disku výpočet intenzity z potenciálu potenciální energie soustavy bodových nábojů potenciální energie soustavy nábojů je rovna práci, kterou musela vykonat vnější síla proti silám pole při sestavování této soustavy, tj. při přemísťování každého náboje „z nekonečna“ do jeho výsledné polohy potenciál nabitého vodiče volný náboj na izolovaném vodiči se samovolně rozprostře po vnějším povrchu vodiče tak, že všechny body vodiče – na povrchu i uvnitř – mají stejný potenciál (to platí bez ohledu na to, zda vodič má či nemá dutinu) vodič ve vnějším poli také v tomto případě je intenzita ve vodiči nulová a potenciál je stejný ve všech bodech vodiče – vnější pole je kompenzováno přerozdělením volného náboje ve vodiči a jeho siločáry vycházejí kolmo z povrchu vodiče (povrch vodiče je ekvipotenciální plochou) vodic_serw příklady: vodič ve vnějším poli 42109 60,000 Volt Tesla Coil Corona Discharge Faradayova klec vodič s dutinou vnitřní plocha vodiče v ustáleném stavu je ekvipotenciální plochou – v dutině vodiče neobsahující náboj je proto intenzita nulová bez ohledu na vnější pole j E + + + + + + + + + + + + + + + + kovová kulová slupka libovolné Gaussova-Ostrogradského věta Gaussův zákon (tok): libovolné Stokesova věta konzervativní pole (cirkulace): (nevírové pole) Poissonova rovnice (Poissonova rovnice) Více o elektrickém poli úvod http://t3.gstatic.com/images?q=tbn:ANd9GcQFDfAAFoi60Efgs13ZtjwM8kYt6ihgRd9thzlQmHU_XfTfXKGoxw http://t0.gstatic.com/images?q=tbn:ANd9GcQj4--6lbDpVJAmcI1QlecRizgykB7yWUYp9c0jSUipxL4P4xA2oQ Elektrostatický odlučovač Aplikace elektrostatiky Autoemisní mikroskop (Field-ion microscope) autoemisni mik autoemisni mik01 Field ion microscopy (FIM) is an analytical technique used in materials science. The field ion microscope is a type of microscope that can be used to image the arrangement of atoms at the surface of a sharp metal tip. It was the first technique by which individual atoms could be spatially resolved. The technique was pioneered by Erwin Müller. Images of atomic structures of tungsten were first published in 1951 in the journal Zeitschrift für Physik. In FIM, a sharp (<50 nm tip radius) metal tip is produced and placed in an ultra high vacuum chamber, which is backfilled with an imaging gas such as helium or neon. The tip is cooled to cryogenic temperatures (20–100 K). A positive voltage of 5000 to 10 000 volts is applied to the tip. Gas atoms adsorbed on the tip are ionized by the strong electric field in the vicinity of the tip (thus, "field ionization"), becoming positively charged and being repelled from the tip. The curvature of the surface near the tip causes a natural magnification — ions are repelled in a direction roughly perpendicular to the surface (a "point projection" effect). A detector is placed so as to collect these repelled ions; the image formed from all the collected ions can be of sufficient resolution to image individual atoms on the tip surface. Unlike conventional microscopes, where the spatial resolution is limited by the wavelength of the particles which are used for imaging, the FIM is a projection type microscope with atomic resolution and an approximate magnification of a few million times.