MASARYKOVA UNIVERZITA
Přírodovědecká fakulta
Firma TECSAN
Šárka Dyčková
Brno 2012
Informace o firmě
Obr. 1: Sídlo firmy Tescan v Brně.
Tato společnost byla založena roku 1991. Původně to byla malá česká firma vyrábějící
programovatelné řídící jednotky, digitizéry pro starší analogové rastrovací elektronové mikroskopy a
drobná příslušenství. V současnosti se stala celosvětovým dodavatelem rastrovacích elektronových
mikroskopů a zakázkových sestav pro použití v materiálovém inženýrství, průmyslu, biologii,
kriminalistice a vědeckých laboratoří.
Díky úsilí, které věnuje průběžnému vývoji svých produktů, spoluúčastí v prestižních
výzkumných projektech a spoluprací s předními společnostmi v oblasti částicové optiky a
mikroanalýzy, se může pochlubit kvalitou svých výrobků, oceňovaných v celosvětových měřítkách.
Jejich píle jim proto přinesla například ocenění Inženýrské akademie ČR pro projekt mikroskopu VEGA
za mimořádné technické dílo nebo zlatou medaili pro VEGA TS na 43. Mezinárodním Strojírenském
Veletrhu.
V dnešní době si na své konto může připsat více než 700 instalovaných zařízení ve více než 50
zemích světa (např. Austrálie, Nový Zéland, USA, Kanada, Mexiko, Venezuela, Chile, Peru, Korea,
China, Vietnam, Egypt, Sýrie, Pákistán, Srí Lanka, Izrael, Tunis, …). K hlavním předmětům činnosti
patří výzkum, vývoj a výroba laboratorní přístrojové techniky se zaměřením na:
 rastrovací elektronové mikroskopy (SEM)
 sestavy a přídavná zařízení pro SEM
 digitální zpracování obrazu z optických zařízení
 vývoj a výroba vakuových komor na zakázku
 detekční systémy
 vývoj hardware a software pro měřící zařízení.
A proto, i s pomocí této firmy, je Brno tradičním výzkumným centrem v oblasti elektronové
mikroskopie a přístrojové techniky.
Výrobky firmy Tescan
Obr. 2: Nová generace analytických rastrovacích elektronových mikroskopů s wolframovou žhavenou
katodou.
Obr. 3: Rastrovací elektronové mikroskopy se Schottkyho autoemisní katodou.
Obr. 4: VELA – Sestava rastrovacího elektronového mikroskopu, doplněná o lokální modifikace
povrchu fokusovaným iontovým svazkem.
Další produkty:
 LYRA FIB-FESEM (Rastrovací elektronový mikroskop vybavený fokusovaným iontovým
svazkem)
 INDUSEM (Nový model rastrovacího elektronového mikroskopu pro průmyslové využití)
 DETEKTORY A PŘÍSLUŠENSTVÍ (Přípojná zařízení vlastní výroby)
 SOFTWARE (Umožňuje uživatelsky přívětivé rozraní pro ovládání, snímání, zpracování a
archivaci snímků)
 SPECIÁLNÍ PRODUKTY
Snímky pořízené produkty firmy Tescan
Obr. 5: Biologie – Ústa klíštěte.
Obr. 6: Biologie - Květy Heřmánku.
Obr. 7: Kriminalistika – Krystalizace vlákna žárovky.
Obr. 8: Lékařství – Povrch tlustého střeva.
Elektronová mikroskopie – teorie
Elektronová mikroskopie je fyzikální metoda, podávající podrobné informace o chemickém složení a
nanostruktuře zkoumaného vzorku. Tento vzorek je zde zkoumán elektronovým svazkem. Elektrony
vznikají emisí z katody a směrem k anodě jsou urychlovány urychlovacím napětím, aby získali
dostatečnou energii. Aby elektrony nebyly zpomaleny a vychylovány srážkami s molekulami vzduchu,
celý děj probíhá ve vakuu. Díky vakuu se zvyšuje účinný průřez a zvyšuje se tak pravděpodobnost
s jakou bude elektron interagovat se vzorkem. Přítomnost elektromagnetického pole nám svazek
zaostří a s pomocí elektromagnetických čoček dosáhneme potřebné zvětšení. Pozorovaný výsledný
signál vzniká interakcí vzorku s elektrony. Podle toho jak obraz vzniká, dělíme elektronovou
mikroskopii do skupin:
 Studium povrchu
 Studium vnitřní struktury
Do skupiny studia povrchu bychom mohli zařadit i metodu skenovací elektronová mikroskopie – SEM,
kterou firma Tescan používá u svých výrobků.
 Skenovací elektronová mikroskopie – SEM
Skenovací elektronová mikroskopie – SEM (Scanning Electron Microscope), bývá občas také
označována jako rastrovací elektronová mikroskopie. Tato metoda je podobná jako u světelného
mikroskopu, avšak jeho velké výhody spočívají ve velkém rozlišení přístroje. Detekují se zde
sekundární elektrony emitované vzorkem po interakci s primárním svazkem elektronů. Primární
svazek elektronů je soustředěn do velmi malého bodu a skenuje povrch - řádek po řádku. Sekundární
elektrony dopadají na scintilátor s fotonásobičem, který zesiluje signál a určuje intenzitu paprsku na
obrazovce. Zvětšení je závislé na velikosti ozářené plochy (menší plocha, větší zvětšení).
Obr. 9: Popis rastrovacího mikroskopu.
Osobní názor na přednášku
Na tuto přednášku od firmy Tecsan jsem se těšila nejvíce ze všech pozvaných hostí. Už při vstupu do
třídy a bližším prozkoumání reprezentativního vzhledu přednášejícího bylo zřejmé, že firma si zakládá
na seriozním vystupování, i když bylo prezentováno jen před posluchárnou vysokoškolských
studentů. Promyšlený začátek přednášky, u kterého nebylo nic ponecháno náhodě, vystřídal
pomocný příběh táhnoucí se celou prezentací, jenž dokázal cíleně udržet pozornost všechen čas.
Propracovanost, důkladnost, důvtip, nápaditost a hlavně nápad byl cítit celou dobu. V dnešní době
konkurence bohužel nestačí mít jenom nápad a vědomosti! Musíte vlastnit i špetku obchodního
ducha a svůj nápad umět prodat. Firma Tescan všechny tyto aspekty vlastní v hojném množství a
snad právě z tohoto důvodu se jeví býti tak perspektivní do budoucna.
Na závěr bych chtěla říct, že firma dostatečně splnila mé očekávání a dokázala mi, že i z
původně malé české firmy lze udělat celosvětově uznávanou společnost, i díky které se Česká
republika drží na předních místech světového výzkumu a uznání.
Zdroje:
http://www.tescan.com/index.php
http://botany.upol.cz/atlasy/anatomie/anatomieCR20.pdf