Přesnost, správnost, mez detekce Viktor Kanický Kurs ICP 2013 Spektroskopická společnost Jana Marka Marci Přírodovědecká fakulta Masarykovy univerzity Analytické parametry Vliv rozlišení na mez detekce Efektivní šířka spektrální čáry ovlivňuje: Intenzitu emise čáry Intenzitu spojitého záření pozadí SBR RSDb  Efektivní šířka čáry Dleff zahrnuje příspěvek fyzikální šířky, DlL a instrumentální šířky čáry Δλins  Poměr signál/pozadí je nepřímo úměrný efektivní šířce spektrální čáry Δλeff, poněvadž intenzita emise čáry roste lineárně s šířkou štěrbiny, kdežto intenzita emise pozadí vzrůstá s druhou mocninou šířky štěrbiny. Dleff = ( DlL 2 + Dlins 2)1/2 Nulová linie Pozadí Spektrální čára BEC = 1/(S/B) cL = 3RSDB  BEC IL S = IL/cA Koncentrace ekvivalentní pozadí a mez detekce RSDL Δλ RSDB B (= IB) X = b0 + b1 . c XL = B + ksB = b0 + b1.cL cL = k.sB/b1 b1 = (X-B)/c = S/c cL = k sB. c /S cL = k.c.RSDb/SBR Analytické parametry Optimalizační kritéria  Signál S při jednotkové koncentrací = citlivost  Poměr signálu k pozadí S/B, SBR  Poměr signálu k šumu S/N, SNR  Relativní standardní odchylka pozadí RSDB  Přesnost (opakovatelnost) RSDS= (S/N)-1  Mez detekce cL SBR RSD S B B s B B S s c B BB L 1 33 3  B s RSD B B  SBRS B 1  Závislost standardní odchylky celkové intenzity čáry a pozadí sL+B a relativní (sL+B)r na koncentraci analytu. cB = koncentrace ekvivalentní pozadí sL+B =stand. odchylka (sL+B)r = rel. stand. odchylka sL,r= 0,38% sB,r= 0,60% Obr.39 Závislost směrodatné sL+B a relativní směrodatné odchylky (sL+B)r intenzity celkové emise čáry a pozadí IL+B na koncentraci IL+B = IL + IB sL+B 2 = sL 2 + sB 2 IN = IL+B - IB sN 2 =sL+B 2 + sB 2= sL 2 + 2sB 2 Závislost standardní a relativní standardní odchylky korigované intenzity emise čáry IN na koncentraci RSD: dlouhodobá opakovatelnost, reálné vzorky silikátů RSD: dlouhodobá opakovatelnost, reálné vzorky silikátů, drift přístroje, diagnostika Přesnost a správnost • Podmínky měření – Maximální citlivost (směrnice kalibrační přímky) – Maximální poměr signál/šum – Minimální matriční efekt • Vlivné parametry – Průtok nosného plynu – Příkon do plazmatu – Výška pozorování • Přes veškeré pozitivní vlastnosti, kterými se budicí zdroj ICP odlišuje od řady dalších, v něm existují nespektrální interference (interference osnovy vzorku) Nespektrální interference se často vyjadřuje jako poměr • kde IL je čistá, tj. na pozadí korigovaná intenzita čáry analytu naměřená s čistým roztokem a IL M je čistá intenzita naměřená za přítomnosti interferentu o určité koncentraci. Běžné je také vyjádření rozdílu (zvýšení, snížení) v %: Nespektrální interference L M L I I X  1001        L M L I I X Nespektrální interference • Podle místa vzniku: – Zmlžovací systém, – Plazmová hlavice. • Podle interferentu: – Snadno ionizovatelné prvky – Kyseliny, rozpouštědla • Podle mechanismu: – Excitační – Ionizační – Zmlžovací a transportní (povrch. napětí, viskozita, hustota, elektrostatický náboj, změna rozdělení obsahu látek v závislosti na velikosti částic, frakcionace) Nespektrální interference Axiální rozdělení nespektrální interference – vliv průtoku nosného plynu Axiální rozdělení nespektrální interference (matrix efektu) X na čáře Nd II 430,358 nm v přítomnosti 0,1 mol/l NaNO3 v závislosti na průtoku nosného plynu Fc; křivka č. – Fc (l/min): 1 - 0,79; 2 –0,92; 3 – 1,06; 4 – 1,19; 5 – 1,32; 6 – 1,45; 7 – 1,58; 8 – 1,72; 9 – 1,85; P = 1,1 kW, průtoky plynů (l/min Ar) Fc = 1,06; Fa = 0,43; Fp =18,3; 16 mg/l Nd v 1,4 mol/l HNO3 Nespektrální interference Radiální rozdělení nespektrální interference Laterální rozdělení nespektrální interference (matrix efektu) X na čarách Y II 371,030 nm (1) a Y I 410,238 nm (2); Polohy maxim laterálních rozdělení emise čar Y II – a, Y I – b (rozdělení zde nejsou uvedena); P = 1,1 kW; Fc = 1,06; Fa = 0,43; Fp =18,3; 0,1 mol/l NaNO3 v 1,4 mol/l HNO3 Nespektrální interference • Závislost nespektrální interference (matrix efektu) X na koncentraci kyseliny chlorovodíkové pro Nd II 430,358 nm; 16 mg/l Nd; podmínky: křivka č. 1: h = 16 mm, Fc = 1,06 l/min, křivka č. 2: h = 20 mm, Fc = 1,45 l/min; P = 1,1 kW; Fa = 0,43 a Fp =18,3 l/min Ar Přesnost a správnost • Hlavní složka vzorku (SiO2 , Fe) – Normalizace – korekce na sumu (100 %) – Celkový rozptyl součtu všech výsledků (σc)2 = součet rozptylů jednotlivých výsledků – rozdíl součtu výsledků od 100 % lze brát jako statisticky významný na dané hladině významnosti jen tehdy, leží-li vně intervalu 3 100 3 100 1 A c m j j A c n x n    Přesnost a správnost • Použití porovnávacího prvku: – zlepšení přesnosti měření (kompenzace šumu vyšších frekvencí) – zlepšení správnosti měření (kompenzace driftu (nízkofrekvenčního šumu) – zlepšení správnosti měření kompenzací vlivu matrice (nespektrální interference) Přesnost a správnost • Podmínky správné funkce porovnávacího prvku 1. signály analytu a porovnávacího prvku musí korelovat v závislosti na malé změně pracovních podmínek ICP zdroje (simulace driftu), přičemž korelační koeficient musí být blízký jedničce; 2. poměr relativních směrodatných odchylek b=σP,r/σA,r signálů IP a IA porovnávacího prvku a analytu musí být blízký jedničce; 3. pokud není hodnota pozadí zanedbatelná vzhledem k signálům IP a IA, je nutno provést před výpočtem poměru IA /IP korekci pozadí; 4. šum detekčního systému musí být zanedbatelnývůči šumu zdroje ICP. Zlepšení RP dosažené použitím porovnávacího prvku je definováno vztahem Přesnost a správnost ),/( , rPA rA PR    kde σA,r a σ(A/P),r jsou relativní směrodatná odchylka signálu analytu IA a relativní směrodatná odchylka podílu I(A/P)= IA/IP. Je-li splněna podmínka 1) a současně b=σP,r /σA,r ≠ 1 , lze vypočítat RP podle vztahu 1  b b RP Přesnost a správnost Pro platnost podmínky 2) a r <1 je zlepšení přesnosti dáno vztahem )1(2 1 r RP   Přesnost a správnost Porovnávací prvek musí splňovat následující podmínky: a) přirozený obsah porovnávacího prvku ve vzorcích musí být nižší než jeho mez detekce metody ICP-AES; b) preparát porovnávacího prvku musí být dostatečně čistý, aby jeho přídavek nezvyšoval slepý pokus pro analyty; c) spektrum porovnávacího prvku nesmí obsahovat příliš mnoho spektrálních čar, aby nedocházelo ke spektrálnímu rušení čar analytů; d) porovnávací čára prvku musí být přiměřeně citlivá, aby koncentrace vnitřního standardu mohla být co nejnižší; e) porovnávací prvek musí být v roztoku stálý, tj. nesmí těkat, tvořit nerozpustné hydrolytické produkty nebo tvořit sraženiny s ionty analytů či se složkami osnovy vzorku. Analytické spektrální čáry, korekce interferencí Výběr analytických čar pro stanovení v konkrétní osnově vzorku se provádí i) s ohledem na obsah stanovované složky; ii) s uvážením možných spektrálních interferencí. Spektrální interference lze klasifikovat takto: i) přímá koincidence spektrálních čar nerozlišitelná ve spektrálním přístroji; ii) překryv čar závislý na propouštěném spektrálním intervalu spektrometru; iii) překryv křídlem rozšířené čáry; iv) interference vyvolaná strukturním pozadím; v) rozptýlené záření. Většina prvků má alespoň jednu citlivou analytickou čáru, která není spektrálně rušena. Korekce spektrálních interferencí • Korekce spektrální interference je obvykle kombinací korekce pozadí a korekce překryvu čarou. Při korekci pomocí korekčních faktorů se od nekorigované koncentrace j-tého analytu cxj vypočtené z kalibrační přímky odečítá zdánlivá koncentrace analytu vyjádřená jako součin korekčního faktoru aij a koncentrace ci i-tého rušícího prvku, stanovené na jeho analytické čáře. Pro n interferentů se vypočte korigovaná koncentrace j-tého analytu cj podle vztahu 1   n i ijixjj accc Vývoj metody 1. Na základě známého složení typu vzorku se zvolí vhodné spektrální čáry. Kritériem jsou požadované meze detekce, citlivost čar a případné spektrální interference. 2. Pro očekávané koncentrace a koncentrační poměry jednotlivých složek se měřením jednoprvkových roztoků interferentů ověří předpokládané spektrální interference a zvolí se body pro korekci pozadí. Vývoj metody 3. Optimalizují se parametry ICP: příkon do plazmatu, průtok nosného plynu, rychlost čerpání roztoku do zmlžovače v případě radiálního ICP výška pozorování, v případě axiálního ICP centrování kanálu vůči optické ose. Optimalizace se provede s čistými roztoky s cílem dosáhnout obvykle maximálního poměru signál/pozadí a minimálního poměru signál/šum. Čistým roztokem se rozumí roztok obsahující analyt v prostředí pouze zředěné kyseliny (k zabránění hydrolýze) a odpovídající slepý roztok. Měření se provádí s vypnutou korekcí pozadí, aby se neztratily informace o změnách pozadí, měřeného on-peak při zmlžování slepého roztoku. Vývoj metody 4. Za optimalizovaných podmínek se ověří vliv kyselin a tavidel používaných k rozkladu vzorku na směrnice kalibračních závislostí. Změří se velikost matriční interference (obvykle deprese signálu ve srovnání s čistými roztoky) a závislost této nespektrální interference na koncentraci tavidel a kyselin v přiměřeném rozmezí. Vyhodnotí se kompenzace matričního efektu porovnávacími prvky. Vyvodí se závěry pro přípravu kalibračních roztoků z hlediska obsahu tavidel a kyselin, zejména rozmezí obsahů těchto reagencií, při nichž není pozorována změna analytických signálů. Vývoj metody 5. Jestliže byly zjištěny podle bodu 2 spektrální interference, které nelze korigovat měřením a odečtem pozadí, změří se hodnoty korekčních faktorů v přítomnosti tavidel a kyselin používaných k rozkladu. Korekční faktory takto zjištěné mají obvykle mírně odlišné hodnoty ve srovnání s hodnotami naměřenými s čistými roztoky. Určí se meze detekce v přítomnosti matrice. Vývoj metody 6. Řízenou změnou parametrů ICP v definovaném malém rozmezí (průtoky, příkon, výška pozorování) se změří trendy signálů jednotlivých analytů v úplné matrici (včetně tavidla a kyselin) a zjistí se, zda jsou tyto trendy kompenzovány porovnávacími prvky. Tyto trendy lze pak předpokládat v případě driftu přístroje. 7. Vyhodnotí se kompenzace skutečného driftu porovnávacím prvkem v průběhu měření modelového nebo vybraného sériového vzorku v delším časovém úseku. Zvolí se optimální porovnávací prvek. Odhadne se nutný časový interval mezi provedením kalibrací (rekalibrací). Vývoj metody 8. Zjistí se opakovatelnost měření a shodnost s certifikovanými hodnotami referenčních materiálů případně modelových vzorků, pokud nejsou referenční materiály k dispozici.