Cíle praktika

• ˆ Měření odrazivosti s a p polarizovaného světla na dielektriku v závislosti na úhlu dopadu.
• ˆ Určení indexu lomu dielektrika z Brewsterova úhlu a porovnání naměřené a teretické závyslosti odrazivosti.ˆ
• Měření posuvu paprsku po průchodu planparalelní deskou v závislosti na úhlu dopadu.
• ˆ Určení indexu lomu planparalelní desky z posuvu paprsku.
  

Popisy aparatur

Videonávody