Cíle praktika

• ˆMěření odrazivosti s a p polarizovaného světla na dielektriku v závislosti na úhlu dopadu.
• ˆUrčení indexu lomu dielektrika z Brewsterova úhlu a porovnání naměřené a teoretické závislosti odrazivosti.ˆ
• Měření posuvu paprsku po průchodu planparalelní deskou v závislosti na úhlu dopadu.
• ˆUrčení indexu lomu planparalelní desky z posuvu paprsku.
  

Popisy aparatur

Videonávody