PřF:F9810 Mikroskopické praktikum III - Informace o předmětu
F9810 Mikroskopické praktikum III
Přírodovědecká fakultapodzim 2024
- Rozsah
- 0/0/5. 6 kr. (plus ukončení). Ukončení: z.
- Vyučující
- Mgr. Milan Ešner, Ph.D. (přednášející)
Mgr. Jana Jurmanová, Ph.D. (přednášející)
Mgr. Mojmír Meduňa, Ph.D. (přednášející)
doc. RNDr. Petr Mikulík, Ph.D. (přednášející)
Mgr. Jiří Nováček, Ph.D. (přednášející)
Mgr. Jan Přibyl, Ph.D. (přednášející) - Garance
- doc. RNDr. Petr Mikulík, Ph.D.
Ústav fyziky kondenzovaných látek – Fyzikální sekce – Přírodovědecká fakulta
Kontaktní osoba: doc. RNDr. Petr Mikulík, Ph.D.
Dodavatelské pracoviště: Ústav fyziky kondenzovaných látek – Fyzikální sekce – Přírodovědecká fakulta - Předpoklady
- Předpokladem pro účast je znalost základů mikroskopických technik, principů fyzikálních přístrojů a fyzikální podstaty různých druhů interakce mezi elektromagnetickým zářením či částicemi a materiálem.
- Omezení zápisu do předmětu
- Předmět je otevřen studentům libovolného oboru.
- Cíle předmětu
- Cílem předmětu je zprostředkovat studentům práci s pokročilými mikroskopickými přístroji implementujícími různé mikroskopické metody pro mapování nejrůznějších vlastností vzorků, umožnit pochopení aplikačního potenciálu daných metod a zpracování a analýzu naměřených dat.
- Výstupy z učení
- Student bude po absolvování předmětu schopen:
- pochopit principy rozličných druhů mikroskopie a otestovat ovládání a využití různých druhů příslušných přístrojů pro mapování povrchových i objemových vlastností materiálů,
- popsat různé druhy interakce dopadajícího záření či částic a materiálu a pochopit aplikační souvislosti,
- znát problematiku přípravy vzorků,
- analyzovat a interpretovat naměřené snímky. - Osnova
- Měření grafenu pomocí nízko-napěťové rastrovací elektronové mikroskopie (LEEM)
- Kryoelektronová mikroskopie v biotechnologii (Cryo-SEM) a příprava vzorků
- Ramanova spektroskopie v biotechnologii a klinické praxi
- Mapování pomocí infračervené mikroskopie (FTIR)
- Mikroskopie atomárních sil (AFM)
- Mikroskopie se skenovací sondou (SPM)
- Hmotnostní spektroskopie sekundárních iontů (SIMS)
- Rentgenové zobrazovací metody (radiografie, výpočetní tomografie)
- Literatura
- povinná literatura
- Návody k jednotlivým úlohám
- doporučená literatura
- X-ray data booklet - http://xdb.lbl.gov/
- Výukové metody
- Laboratorní cvičení proběhnou na Přírodovědecké fakultě, CEITECu MU, CEITECu Nano, Ústavu přístrojové techniky a dalších institucí dle aktuální dostupnosti přístrojů
- Metody hodnocení
- Pro získání zápočtu je třeba odevzdat otestované protokoly ze všech měřených úloh.
- Další komentáře
- Předmět je vyučován každoročně.
Výuka probíhá každý týden.
- Statistika zápisu (nejnovější)
- Permalink: https://is.muni.cz/predmet/sci/podzim2024/F9810