PřF:F7840 Elektronová mikroskopie p.l. - Informace o předmětu
F7840 Elektronová mikroskopie a její aplikace při studiu pevných látek
Přírodovědecká fakultapodzim 2020
- Rozsah
- 2/0/0. 1 kr. (plus ukončení). Ukončení: k.
- Vyučující
- RNDr. Jiří Buršík, DSc. (přednášející)
prof. Mgr. Tomáš Kruml, CSc. (přednášející), prof. RNDr. Josef Humlíček, CSc. (zástupce) - Garance
- prof. RNDr. Josef Humlíček, CSc.
Ústav fyziky kondenzovaných látek – Fyzikální sekce – Přírodovědecká fakulta
Kontaktní osoba: RNDr. Jiří Buršík, DSc.
Dodavatelské pracoviště: Ústav fyziky kondenzovaných látek – Fyzikální sekce – Přírodovědecká fakulta - Omezení zápisu do předmětu
- Předmět je nabízen i studentům mimo mateřské obory.
- Mateřské obory/plány
- Fyzika (program PřF, N-FY)
- Cíle předmětu
- Studenti se seznámí s principy elektronové mikroskopie, jak transmisní, tak řádkovací. Budou probírány základy teorie zobrazení a difrakce v elektronovém mikroskopu. Pozornost bude věnována i analytickým metodám a novinkám v oblasti elektronové mikroskopie. Přednášky budou doplněny několika praktickými cvičeními u elektronových mikroskopů na pracovišti lektorů.
- Osnova
- Interakce elektronů s pevnou látkou. Typy elektronových mikroskopů. TEM a SEM. Pracovní módy elektronových mikroskopů. Příprava vzorků pro EM. Teorie elektronové difrakce (rozptyl elektronů, elektronová difrakce krystalických a amorfních objektů, bodový a kruhový difraktogram, Braggova rovnice, Ewaldova konstrukce). Kinematická a dynamická teorie kontrastu. Kikuchiho linie. Praktické úlohy TEM. Vysokorozlišovací elektronová mikroskopie (HREM). Simulace obrazu v HREM. Pokročilejší metody elektronové difrakce: mikrodifrakce, difrakce v konvergentním svazku (CBED). Rastrovací elektronová mikroskopie (SEM). Moderní trendy a metodiky. Analytická elektronová mikroskopie. Praktické ukázky – TEM, SEM+EDX+WDX+EBSD.
- Literatura
- KARLÍK, Miroslav. Úvod do transmisní elektronové mikroskopie. Vyd. 1. Praha: České vysoké učení technické v Praze, 2011, 321 s. ISBN 9788001047293. info
- GOLDSTEIN, Joseph I. Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis. 3rd ed. New York: Kluwer Academic/Plenum publishers, 2003, xix, 689 s. ISBN 0-306-47292-9. info
- Transmission electron microscopy : physics of image formation and microanalysis. Edited by Ludwig Reimer. 3. ed. Berlin: Springer, 1993, 545 s. ISBN 3540568492. info
- Výukové metody
- přednášky, 2-3 praktické lekce
- Metody hodnocení
- kolokvium
- Informace učitele
- výuka i praktická cvičení probíhají na Ústavu fyziky materiálů AVČR, Žižkova 22, Brno
- Další komentáře
- Předmět je dovoleno ukončit i mimo zkouškové období.
Předmět je vyučován jednou za dva roky.
Výuka probíhá každý týden.
S.
- Statistika zápisu (podzim 2020, nejnovější)
- Permalink: https://is.muni.cz/predmet/sci/podzim2020/F7840