MUI_339 Materiálové průzkumy sbírkových předmětů

Filozofická fakulta
jaro 2019
Rozsah
2/0. 3 kr. Ukončení: z.
Vyučující
Mgr. Martin Hložek, Ph.D. (přednášející)
Garance
prof. Mgr. Jiří Macháček, Ph.D.
Oddělení muzeologie – Ústav archeologie a muzeologie – Filozofická fakulta
Kontaktní osoba: Ing. Jana Přepechalová
Dodavatelské pracoviště: Oddělení muzeologie – Ústav archeologie a muzeologie – Filozofická fakulta
Rozvrh
Pá 22. 2. 9:00–12:40 TMB, Pá 15. 3. 9:00–12:40 TMB, Pá 5. 4. 9:00–12:40 TMB, Pá 10. 5. 9:00–12:40 TMB
Omezení zápisu do předmětu
Předmět je otevřen studentům libovolného oboru.
Cíle předmětu
Tento kurz seznamuje posluchače se základy analytických metod používaných v současné době při průzkumech sbírkových předmětů v muzeích a galeriích. Hlavní důraz je kladen na postupy používání těchto technik včetně odběrů vzorků, jejich informační hodnotu, omezení a možnosti interpretace dat. Součástí kurzu je i možnost práce s vybranými přístroji.
Osnova
  • 1. Aplikace radiografie a endoskopie při průzkumu sbírkových předmětů 2. Aplikace počítačové tomografie při průzkumu sbírkových předmětů 3. Aplikace optické a polarizační mikroskopie při průzkumu sbírkových předmětů 4. Aplikace elektronové mikroskopie a videomikroskopie při průzkumu sbírkových předmětů 5. Aplikace ručního XRF spektrometru při průzkumu sbírkových předmětů 6. Aplikace ostatních analytických metod (XRD, LIBS, AAS, NAA, MALDI-TOF MS, GC-MS, IR, FTIR, Ramanova spektrometrie, aj.) při průzkumu sbírkových předmětů
Literatura
Výukové metody
Přednáška, návštěva laboratoře
Metody hodnocení
kolokvium
Další komentáře
Studijní materiály
Předmět je vyučován jednou za dva roky.
Předmět je zařazen také v obdobích jaro 2017, jaro 2020.