F8512 Optika nabitých částic: aplikace

Přírodovědecká fakulta
jaro 2009
Rozsah
2/0/0. 2 kr. (plus 1 za zk). Doporučované ukončení: z. Jiná možná ukončení: zk.
Vyučující
prof. RNDr. Michal Lenc, Ph.D. (přednášející)
Garance
prof. RNDr. Michal Lenc, Ph.D.
Ústav teoretické fyziky a astrofyziky – Fyzikální sekce – Přírodovědecká fakulta
Kontaktní osoba: prof. RNDr. Michal Lenc, Ph.D.
Omezení zápisu do předmětu
Předmět je nabízen i studentům mimo mateřské obory.
Mateřské obory/plány
Cíle předmětu
V přednášce jsou rozebrány zajímavé optické systémy pracující s nabitými částicemi. Obsah může být měněn podle zájmu většiny zapsaných studentů, obvykle jde o protonový a elektronový synchrotron, mikroskop s velmi pomalými elektrony (LEEM), prozařovací elektronový mikroskop a elektrostatické energiové analyzátory.
Osnova
  • Protonový a elektronový synchrotron. Mikroskop s velmi pomalými elektrony (LEEM). Prozařovací elektronový mikroskop. Elektrostatické energiové analyzátory.
Literatura
  • HAWKES, P. W. Wave optics. London: Academic Press, 1994, 1899 s. ISBN 0123333547. info
  • HAWKES, Peter W a Erwin KASPER. Principles of Electron Optics: Applied Geometrical Optics. Academic Press, 1989. ISBN 0123333520. info
  • HAWKES, Peter W a Erwin KASPER. Principles of Electron Optics: Basic Geometrical Optics. Academic Press, 1989. ISBN 0123333512. info
Metody hodnocení
Přednášky. Esej o praktickém využití některého zařízení využívajícího částicové optiky.
Další komentáře
Předmět je vyučován jednou za dva roky.
Výuka probíhá každý týden.
S.
Předmět je zařazen také v obdobích jaro 2001, jaro 2003, jaro 2005, jaro 2007, jaro 2011, jaro 2017, jaro 2019, jaro 2020.