PřF:F7850 Kapitoly z elektron. mikrosk. - Informace o předmětu

F7850 Vybrané kapitoly z elektronové mikroskopie

Údaje z období jaro 2012 - akreditace se nezveřejňují

Rozsah

2/0. 2 kr. (plus ukončení). Ukončení: z.

Vyučující

RNDr. Lubomír Tůma (přednášející)

Garance

prof. RNDr. Michal Lenc, Ph.D.
Ústav fyziky kondenzovaných látek – Fyzikální sekce – Přírodovědecká fakulta
Kontaktní osoba: Mgr. Filip Münz, PhD.
Dodavatelské pracoviště: Ústav fyziky kondenzovaných látek – Fyzikální sekce – Přírodovědecká fakulta

Omezení zápisu do předmětu

Předmět je nabízen i studentům mimo mateřské obory.

Mateřské obory/plány

• Fyzika kondenzovaných látek (angl.) (program PřF, N-FY)
• Fyzika kondenzovaných látek (program PřF, N-FY)
• Fyzika plazmatu (angl.) (program PřF, N-FY)
• Fyzika plazmatu (program PřF, N-FY)
• Fyzika (program PřF, N-FY)
• Teoretická fyzika a astrofyzika (angl.) (program PřF, N-FY)
• Teoretická fyzika a astrofyzika (program PřF, N-FY)
• Teoretická fyzika a astrofyzika (program PřF, N-FY, směr Astrofyzika)
• Teoretická fyzika a astrofyzika (program PřF, N-FY, směr Teoretická fyzika)

Cíle předmětu

Výběrová přednáška se zabývá elektronovou mikroskopií a příbuznými metodami jak z pohledu fyzikálních principů, konstrukce a výroby přístrojů ale i z hlediska praktického využití uživateli přístrojů.

Osnova

• 1. Základy rastrovací a transmisní elektronové mikroskopie
• 2. Použití elektronové mikroskopie
• 3. Elektronová a iontová optika
• 4. Elektronové a iontové zdroje
• 5. Interakce elektronů a iontů s pevnou látkou
• 6. Detekce signálu v elektronové mikroskopii
• 7. Vakuový systém
• 8. Manipulace s preparátem v elektronovém mikroskopu
• 9. Speciální stolky preparátu
• 10. Mikroskop jako systém
• 11. Kontrast a obraz 1. (SEM)
• 12. Kontrast a obraz 2 (TEM)
• 13. Mikroskop jako laboratoř
• 14. Moderní trendy v elektronové mikroskopii
• 15. Praktická ukázka

Výukové metody

přednášky + praktická lekce

Metody hodnocení

Zápočet udělí vyučující kurzu na základě kolokvia.

Informace učitele

Vyučující:
Ing. Tomáš Vystavěl, Ph.D. (přednášející) RNDr. Lubomír Tůma (zástupce) a kolektiv

Literatura:
Goldstein, Joseph I. Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis. 3rd ed. New York : Kluwer Academic/Plenum publishers, 2003. xix, 689 s. ISBN 0-306-47292-9
Reimer, Ludwig Scanning Electron Microscopy - Physics of Image Formation and Microanalysis 1998, Springer, ISBN 978-3-540-63976-3
Reimer, Ludwig, Kohl, Helmut Transmission Electron Microscopy - Physics of Image Formation, 2008, Springer, ISBN 978-0-387-40093-8

Další komentáře

Předmět je vyučován každoročně.
Výuka probíhá každý týden.

• Statistika zápisu (jaro 2012 - akreditace, nejnovější)
  
• Permalink: https://is.muni.cz/predmet/sci/jaro2012-akreditace/F7850