F7850 Vybrané kapitoly z elektronové mikroskopie

Přírodovědecká fakulta
jaro 2012 - akreditace

Údaje z období jaro 2012 - akreditace se nezveřejňují

Rozsah
2/0. 2 kr. (plus ukončení). Ukončení: z.
Vyučující
RNDr. Lubomír Tůma (přednášející)
Garance
prof. RNDr. Michal Lenc, Ph.D.
Ústav fyziky kondenzovaných látek – Fyzikální sekce – Přírodovědecká fakulta
Kontaktní osoba: Mgr. Filip Münz, PhD.
Dodavatelské pracoviště: Ústav fyziky kondenzovaných látek – Fyzikální sekce – Přírodovědecká fakulta
Omezení zápisu do předmětu
Předmět je nabízen i studentům mimo mateřské obory.
Mateřské obory/plány
předmět má 9 mateřských oborů, zobrazit
Cíle předmětu
Výběrová přednáška se zabývá elektronovou mikroskopií a příbuznými metodami jak z pohledu fyzikálních principů, konstrukce a výroby přístrojů ale i z hlediska praktického využití uživateli přístrojů.
Osnova
  • 1. Základy rastrovací a transmisní elektronové mikroskopie
  • 2. Použití elektronové mikroskopie
  • 3. Elektronová a iontová optika
  • 4. Elektronové a iontové zdroje
  • 5. Interakce elektronů a iontů s pevnou látkou
  • 6. Detekce signálu v elektronové mikroskopii
  • 7. Vakuový systém
  • 8. Manipulace s preparátem v elektronovém mikroskopu
  • 9. Speciální stolky preparátu
  • 10. Mikroskop jako systém
  • 11. Kontrast a obraz 1. (SEM)
  • 12. Kontrast a obraz 2 (TEM)
  • 13. Mikroskop jako laboratoř
  • 14. Moderní trendy v elektronové mikroskopii
  • 15. Praktická ukázka
Výukové metody
přednášky + praktická lekce
Metody hodnocení
Zápočet udělí vyučující kurzu na základě kolokvia.
Informace učitele
Vyučující:
Ing. Tomáš Vystavěl, Ph.D. (přednášející) RNDr. Lubomír Tůma (zástupce) a kolektiv

Literatura:
Goldstein, Joseph I. Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis. 3rd ed. New York : Kluwer Academic/Plenum publishers, 2003. xix, 689 s. ISBN 0-306-47292-9
Reimer, Ludwig Scanning Electron Microscopy - Physics of Image Formation and Microanalysis 1998, Springer, ISBN 978-3-540-63976-3
Reimer, Ludwig, Kohl, Helmut Transmission Electron Microscopy - Physics of Image Formation, 2008, Springer, ISBN 978-0-387-40093-8
Další komentáře
Předmět je vyučován každoročně.
Výuka probíhá každý týden.
Předmět je zařazen také v obdobích jaro 2012, jaro 2013, jaro 2014, jaro 2015, jaro 2016, jaro 2018, jaro 2020, jaro 2022, podzim 2024.