PřF:F7850 Kapitoly z elektron. mikrosk. - Informace o předmětu
F7850 Vybrané kapitoly z elektronové mikroskopie
Přírodovědecká fakultajaro 2012
- Rozsah
- 2/0. 2 kr. (plus ukončení). Ukončení: z.
- Vyučující
- RNDr. Lubomír Tůma (přednášející), Mgr. Filip Münz, PhD. (zástupce)
Ing. Tomáš Vystavěl, PhD. (přednášející), doc. RNDr. Petr Mikulík, Ph.D. (zástupce) - Garance
- prof. RNDr. Michal Lenc, Ph.D.
Ústav fyziky kondenzovaných látek – Fyzikální sekce – Přírodovědecká fakulta
Kontaktní osoba: doc. RNDr. Petr Mikulík, Ph.D.
Dodavatelské pracoviště: Ústav fyziky kondenzovaných látek – Fyzikální sekce – Přírodovědecká fakulta - Rozvrh
- St 14:00–15:50 Fs1 6/1017
- Omezení zápisu do předmětu
- Předmět je nabízen i studentům mimo mateřské obory.
- Mateřské obory/plány
- Fyzika kondenzovaných látek (angl.) (program PřF, N-FY)
- Fyzika kondenzovaných látek (program PřF, N-FY)
- Fyzika plazmatu (angl.) (program PřF, N-FY)
- Fyzika plazmatu (program PřF, N-FY)
- Fyzika (program PřF, N-FY)
- Teoretická fyzika a astrofyzika (angl.) (program PřF, N-FY)
- Teoretická fyzika a astrofyzika (program PřF, N-FY)
- Teoretická fyzika a astrofyzika (program PřF, N-FY, směr Astrofyzika)
- Teoretická fyzika a astrofyzika (program PřF, N-FY, směr Teoretická fyzika)
- Cíle předmětu
- Studenti by měli po úspěšném absolvování kurzu být schopni popsat konstrukci elektronových mikroskopů, charakterizovat jednotlivé fyzikální procesy nutné k tvorbě obrazu, diskutovat funkce jednotlivých částí aparatury a posoudit vhodnost různých typů EM pro měření konkrétních vzorků.
- Osnova
- Výběrová přednáška se zabývá elektronovou mikroskopií a příbuznými metodami jak z pohledu fyzikálních principů, konstrukce a výroby přístrojů ale i z hlediska praktického využití uživateli přístrojů.
- 1. Základy rastrovací a transmisní elektronové mikroskopie
- 2. Použití elektronové mikroskopie
- 3. Elektronová a iontová optika
- 4. Elektronové a iontové zdroje
- 5. Interakce elektronů a iontů s pevnou látkou
- 6. Detekce signálu v elektronové mikroskopii
- 7. Vakuový systém
- 8. Manipulace s preparátem v elektronovém mikroskopu
- 9. Speciální stolky preparátu
- 10. Mikroskop jako systém
- 11. Kontrast a obraz 1. (SEM)
- 12. Kontrast a obraz 2 (TEM)
- 13. Mikroskop jako laboratoř
- 14. Moderní trendy v elektronové mikroskopii
- 15. Praktická ukázka
- Literatura
- doporučená literatura
- GOLDSTEIN, Joseph I. Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis. 3rd ed. New York: Kluwer Academic/Plenum publishers, 2003, xix, 689 s. ISBN 0-306-47292-9. info
- Transmission electron microscopy : physics of image formation and microanalysis. Edited by Ludwig Reimer. 3. ed. Berlin: Springer, 1993, 545 s. ISBN 3540568492. info
- Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis. Edited by Ludwig Reimer. Berlin: Springer-Verlag, 1985, 457 s. ISBN 3540135308. info
- Výukové metody
- přednášky + praktická lekce
- Metody hodnocení
- Zápočet udělí vyučující kurzu na základě kolokvia.
- Informace učitele
- Vyučující:
Ing. Tomáš Vystavěl, Ph.D. (přednášející) RNDr. Lubomír Tůma (zástupce) a kolektiv
Literatura:
Goldstein, Joseph I. Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis. 3rd ed. New York : Kluwer Academic/Plenum publishers, 2003. xix, 689 s. ISBN 0-306-47292-9
Reimer, Ludwig Scanning Electron Microscopy - Physics of Image Formation and Microanalysis 1998, Springer, ISBN 978-3-540-63976-3
Reimer, Ludwig, Kohl, Helmut Transmission Electron Microscopy - Physics of Image Formation, 2008, Springer, ISBN 978-0-387-40093-8 - Další komentáře
- Studijní materiály
Předmět je vyučován každoročně.
- Statistika zápisu (jaro 2012, nejnovější)
- Permalink: https://is.muni.cz/predmet/sci/jaro2012/F7850