PřF:F7850 Kapitoly z elektron. mikrosk. - Informace o předmětu

F7850 Vybrané kapitoly z elektronové mikroskopie

Rozsah

2/0/0. 2 kr. (plus ukončení). Doporučované ukončení: z. Jiná možná ukončení: zk, k.

Vyučující

RNDr. Lubomír Tůma (přednášející), Mgr. Filip Münz, PhD. (zástupce)
Ing. Tomáš Vystavěl, PhD. (přednášející), doc. RNDr. Petr Mikulík, Ph.D. (zástupce)

Garance

prof. Mgr. Dominik Munzar, Dr.
Ústav fyziky kondenzovaných látek – Fyzikální sekce – Přírodovědecká fakulta
Kontaktní osoba: doc. RNDr. Petr Mikulík, Ph.D.
Dodavatelské pracoviště: Ústav fyziky kondenzovaných látek – Fyzikální sekce – Přírodovědecká fakulta

Rozvrh

Čt 14:00–15:50 Fs1 6/1017

Omezení zápisu do předmětu

Předmět je nabízen i studentům mimo mateřské obory.

Mateřské obory/plány

• Fyzika kondenzovaných látek (angl.) (program PřF, N-FY)
• Fyzika kondenzovaných látek (program PřF, N-FY)
• Fyzika plazmatu (angl.) (program PřF, N-FY)
• Fyzika plazmatu (program PřF, N-FY)
• Fyzika (program PřF, N-FY)
• Teoretická fyzika a astrofyzika (angl.) (program PřF, N-FY)
• Teoretická fyzika a astrofyzika (program PřF, N-FY)
• Teoretická fyzika a astrofyzika (program PřF, N-FY, směr Astrofyzika)
• Teoretická fyzika a astrofyzika (program PřF, N-FY, směr Teoretická fyzika)

Cíle předmětu

Studenti by měli po úspěšném absolvování kurzu být schopni popsat konstrukci elektronových mikroskopů, charakterizovat jednotlivé fyzikální procesy nutné k tvorbě obrazu, diskutovat funkce jednotlivých částí aparatury a posoudit vhodnost různých typů EM pro měření konkrétních vzorků.

Osnova

• Výběrová přednáška se zabývá elektronovou mikroskopií a příbuznými metodami jak z pohledu fyzikálních principů, konstrukce a výroby přístrojů ale i z hlediska praktického využití uživateli přístrojů.
• 1. Základy rastrovací a transmisní elektronové mikroskopie
• 2. Použití elektronové mikroskopie
• 3. Elektronová a iontová optika
• 4. Elektronové a iontové zdroje
• 5. Interakce elektronů a iontů s pevnou látkou
• 6. Detekce signálu v elektronové mikroskopii
• 7. Vakuový systém
• 8. Manipulace s preparátem v elektronovém mikroskopu
• 9. Speciální stolky preparátu
• 10. Mikroskop jako systém
• 11. Kontrast a obraz 1. (SEM)
• 12. Kontrast a obraz 2 (TEM)
• 13. Mikroskop jako laboratoř
• 14. Moderní trendy v elektronové mikroskopii
• 15. Praktická ukázka

Výukové metody

přednášky + praktická lekce

Metody hodnocení

Zápočet udělí vyučující kurzu na základě kolokvia.

Informace učitele

Vyučující:
Ing. Tomáš Vystavěl, Ph.D. (přednášející) RNDr. Lubomír Tůma (zástupce) a kolektiv

Literatura:
Goldstein, Joseph I. Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis. 3rd ed. New York : Kluwer Academic/Plenum publishers, 2003. xix, 689 s. ISBN 0-306-47292-9
Reimer, Ludwig Scanning Electron Microscopy - Physics of Image Formation and Microanalysis 1998, Springer, ISBN 978-3-540-63976-3
Reimer, Ludwig, Kohl, Helmut Transmission Electron Microscopy - Physics of Image Formation, 2008, Springer, ISBN 978-0-387-40093-8

Další komentáře

Studijní materiály
Předmět je vyučován jednou za dva roky.
L.

• Statistika zápisu (jaro 2022, nejnovější)
  
• Permalink: https://is.muni.cz/predmet/sci/jaro2022/F7850