PřF:F7360 Char. povrchů a tenkých vrstev - Informace o předmětu

F7360 Charakterizace povrchů a tenkých vrstev

Rozsah

2/1/0. 2 kr. (plus ukončení). Ukončení: k.

Vyučující

doc. Mgr. Lenka Zajíčková, Ph.D. (přednášející)

Garance

doc. Mgr. Lenka Zajíčková, Ph.D.
Ústav fyziky kondenzovaných látek – Fyzikální sekce – Přírodovědecká fakulta
Kontaktní osoba: doc. Mgr. Lenka Zajíčková, Ph.D.
Dodavatelské pracoviště: Ústav fyziky kondenzovaných látek – Fyzikální sekce – Přírodovědecká fakulta

Omezení zápisu do předmětu

Předmět je otevřen studentům libovolného oboru.

Cíle předmětu

Přednáška podává přehled o fyzikálních metodách charakterizace povrchů a tenkých vrstev.

Výstupy z učení

Na konci tohoto kurzu bude student schopen:
vysvětlit rozdíly mezi jednotlivými typy vazeb v pevných látkách;
vysvětlit rozdíly mezi různými typy pevných látek;
diskutovat procesy na čistých površích materiálů a navrhnout metody jejich získání;
vysvětlit procesy fyzisorpce a chemisorpce;
popsat proces interakce různého typů záření (včetně elektronových a iontových svazků) s materiály;
kvalifikovaně se rozhodnout jaké metody charakterizace a v jakém sledu použít.

Osnova

• 1. Vazby v pevných látkách (iontová, kovalentní, van der Waalsova, kovová)
• 2. Typy materiálů (krystalická struktura, keramiky, skla, kovy, polymery, kompozity)
• 3. Fyzika povrchů (povrchové napětí, elektronika povrchů, výstupní práce, povrchové stavy, termoemise, fyzisorpce, chemisorpce, metody získávání čistých povrchů)
• 4. Interakce fotonů s pevnou látkou a principy spektroskopických metod charakterizace (Mössbauerův jev, fotoefekt, spektrofotometrie a elipsometrie, Ramanova spektroskopie, infračervená spektroskopie, NMR, EPR)
• 5. Jevy spojené s interakcí částic (elektronů, neutronů, iontů/atomů) s pevnou látkou
• 6. Elektronová spektroskopie (zdroje elektronů, analyzátory energie elektronů, ultrafialová elektronová spektroskopie, rentgenovská fotoelektronová spektroskopie, Augerovská spektrokopie, spektroskopie ztrát energie)
• 7. Iontové metody analýzy (zdroje iontů, hmotnostní analyzátory, spektroskopie Rutherfordova zpětného rozptylu - RBS, analýza dopředně vyražených částic - ERDA, spektroskopická analýza nukleárních reakcí - NRA, hmotnostní spektrometrie sekundárních iontů - SIMS, FAB, MALDI)

Literatura

• FLEWITT, P. E. J. a R. K. WILD. Physical methods for materials characterisation. Bristol: Institute of Physics Publishing, 1994, xvi, 517. ISBN 0750303204. info

Výukové metody

Kurz je veden formou přednášky, která vysvětluje všechna témata sylabu. Kromě toho studenti diskutují návrhy postupu analýzy určitých modelových vzorků a zkouší vyhodnocovat experimentální data. Součástí kurzu je i exkurze do laboratoří s probíranými analytickými metodami.

Metody hodnocení

Předmět je ukončen kolokviem. Získání kreditů je podmíněno:
- prostudováním vybraného anglického odborného článku, který se zabývá charakterizací tenkých vrstev nebo povrchů,
- ústním referátem, během kterého student nastudovaný odborný článek okomentuje a diskutuje z hlediska použitých analytických metod a jejich výsledků,
- prokázáním znalostí v písemném testu.

Vyučovací jazyk

Angličtina

Navazující předměty

• F4280 Technologie depozice tenkých vrstev a povrchových úprav

Informace učitele

Pokud si předmět zapíše méně než 5 studentů, bude se výuka konat blokově dle harmonogramu domluveného na začátku semestru.

Další komentáře

Předmět je dovoleno ukončit i mimo zkouškové období.
Předmět je vyučován jednou za dva roky.
Výuka probíhá každý týden.
L.

• Statistika zápisu (nejnovější)
  
• Permalink: https://is.muni.cz/predmet/sci/jaro2024/F7360