PřF:F7840 Transmisní elektron. mikrosk. - Informace o předmětu

F7840 Transmisní elektronová mikroskopie

Rozsah

2/0/0. 2 kr. (plus ukončení). Ukončení: k.

Vyučující

Ing. Ivo Kuběna, Ph.D. (přednášející)
RNDr. Naděžda Pizúrová, Ph.D. (přednášející)
Mgr. Jiří Nováček, Ph.D. (přednášející)
doc. RNDr. Petr Mikulík, Ph.D. (přednášející)

Garance

doc. RNDr. Petr Mikulík, Ph.D.
Ústav fyziky kondenzovaných látek – Fyzikální sekce – Přírodovědecká fakulta
Kontaktní osoba: doc. RNDr. Petr Mikulík, Ph.D.
Dodavatelské pracoviště: Ústav fyziky kondenzovaných látek – Fyzikální sekce – Přírodovědecká fakulta

Rozvrh

Po 17. 2. až So 24. 5. Po 9:00–10:50 Kontaktujte učitele

Předpoklady

Základní znalosti skenovací elektronové mikroskopie včetně praktického využití, např. absolvováním předmětů F7850 Vybrané kapitoly z elektronové mikroskopie a praktického měření na SEM.

Omezení zápisu do předmětu

Předmět je nabízen i studentům mimo mateřské obory.

Mateřské obory/plány

• Fyzika (program PřF, N-FY)

Cíle předmětu

Studenti se seznámí s principy transmisní elektronové mikroskopie a aplikacemi v materiálových i biologických vědách. Budou probírány základy teorie zobrazení a difrakce v elektronovém mikroskopu. Pozornost bude věnována i analytickým metodám a novinkám v oblasti elektronové mikroskopie. Přednášky budou korelovat s praktickými cvičeními u elektronových mikroskopů v Mikroskopickém praktiku II.

Výstupy z učení

Po úspěšném dokončení tohoto kurzu budou studenti schopni:
- vysvětlit fyzikální principy transmisní elektronové mikroskopie,
- mít přehled o aplikacích TEM pro materiálové i biologické vědy,
- popsat přípravu vzorků pro TEM.

Osnova

• Interakce elektronů s pevnou látkou. Typy transmisních elektronových mikroskopů a jejich pracovní módy. Příprava vzorků pro TEM. Teorie elektronové difrakce (rozptyl elektronů, elektronová difrakce krystalických a amorfních objektů, bodový a kruhový difraktogram, Braggova rovnice, Ewaldova konstrukce). Kinematická a dynamická teorie kontrastu. Kikuchiho linie. Praktické úlohy TEM. Vysokorozlišovací elektronová mikroskopie (HREM). Simulace obrazu v HREM. Pokročilejší metody elektronové difrakce: mikrodifrakce, difrakce v konvergentním svazku (CBED). Moderní trendy a metodiky. Analytická elektronová mikroskopie. Příprava vzorků.

Výukové metody

přednášky, případně doplněné praktickými ukázkami

Metody hodnocení

Předmět bude ukončen kolokviem.

Další komentáře

Studijní materiály
Předmět je dovoleno ukončit i mimo zkouškové období.
Předmět je vyučován každoročně.

• Statistika zápisu (nejnovější)
  
• Permalink: https://is.muni.cz/predmet/sci/jaro2025/F7840