PřF:C8080 Elektronová mikroskopie - Informace o předmětu
C8080 Analytická elektronová mikroskopie v materiálové chemii
Přírodovědecká fakultapodzim 2020
- Rozsah
- 2/0/0. 2 kr. (plus ukončení). Ukončení: zk.
- Vyučující
- Ing. Ivo Kuběna, PhD. (přednášející), prof. Mgr. Tomáš Kruml, CSc. (zástupce)
Mgr. Ondřej Zobač, Ph.D. (přednášející) - Garance
- RNDr. Jiří Buršík, DSc.
Ústav chemie – Chemická sekce – Přírodovědecká fakulta
Dodavatelské pracoviště: Ústav chemie – Chemická sekce – Přírodovědecká fakulta - Předpoklady
- Fyzika, matematika a chemie na VŠ úrovni magisterského studia
- Omezení zápisu do předmětu
- Předmět je nabízen i studentům mimo mateřské obory.
- Mateřské obory/plány
- Fyzikální chemie (program PřF, D-CH4)
- Materiálová chemie (program PřF, D-CH4)
- Cíle předmětu
- Studenti se seznámí s principy elektronové mikroskopie, jak transmisní, tak řádkovací. Budou probírány základy teorie zobrazení a difrakce v elektronovém mikroskopu. Pozornost bude věnována také analytickým metodám charakterizace materiálů objemových (slitiny, chemické sloučeniny) a práškových (nanočástice připravené různými chemickými metodami). Přednášky budou doplněny několika praktickými cvičeními u elektronových mikroskopů na pracovišti lektora.
- Osnova
- Interakce elektronů s pevnou látkou. Typy elektronových mikroskopů. TEM a SEM. Pracovní módy elektronových mikroskopů. Příprava vzorků pro EM. Teorie elektronové difrakce (rozptyl elektronů, elektronová difrakce krystalických a amorfních objektů, bodový a kruhový difraktogram, Braggova rovnice, Ewaldova konstrukce). Kinematická a dynamická teorie kontrastu. Kikuchiho linie. Praktické úlohy TEM. Vysokorozlišovací elektronová mikroskopie (HREM). Simulace obrazu v HREM. Pokročilejší metody elektronové difrakce: mikrodifrakce, difrakce v konvergentním svazku (CBED). Rastrovací elektronová mikroskopie (SEM). Analytická elektronová mikroskopie. Praktické ukázky – TEM, SEM+EDX+WDX+EBSD.
- Literatura
- povinná literatura
- KARLÍK, Miroslav. Úvod do transmisní elektronové mikroskopie. Vyd. 1. Praha: České vysoké učení technické v Praze, 2011, 321 s. ISBN 9788001047293. info
- doporučená literatura
- GOLDSTEIN, Joseph I. Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis. 3rd ed. New York: Kluwer Academic/Plenum publishers, 2003, xix, 689 s. ISBN 0-306-47292-9. info
- Transmission electron microscopy : physics of image formation and microanalysis. Edited by Ludwig Reimer. 3. ed. Berlin: Springer, 1993, 545 s. ISBN 3540568492. info
- Výukové metody
- přednášky, 2-3 praktické lekce
- Metody hodnocení
- zkouška
- Informace učitele
- výuka i praktická cvičení probíhají na Ústavu fyziky materiálů AVČR, Žižkova 22, Brno
- Další komentáře
- Předmět je vyučován jednou za dva roky.
Výuka probíhá každý týden.
Poznámka k četnosti výuky: Předmět je vyučován jednou za dva roky (podzim 2016, podzim 2018 atd.).
- Statistika zápisu (podzim 2020, nejnovější)
- Permalink: https://is.muni.cz/predmet/sci/podzim2020/C8080