PřF:F7850 Kapitoly z elektron. mikrosk. - Informace o předmětu
F7850 Vybrané kapitoly z elektronové mikroskopie
Přírodovědecká fakultapodzim 2024
- Rozsah
- 2/0/0. 2 kr. (plus ukončení). Ukončení: k.
- Vyučující
- doc. RNDr. Petr Mikulík, Ph.D. (přednášející)
RNDr. Lubomír Tůma (přednášející)
Ing. Tomáš Vystavěl, PhD. (přednášející), doc. RNDr. Petr Mikulík, Ph.D. (zástupce) - Garance
- doc. RNDr. Petr Mikulík, Ph.D.
Ústav fyziky kondenzovaných látek – Fyzikální sekce – Přírodovědecká fakulta
Kontaktní osoba: doc. RNDr. Petr Mikulík, Ph.D.
Dodavatelské pracoviště: Ústav fyziky kondenzovaných látek – Fyzikální sekce – Přírodovědecká fakulta - Omezení zápisu do předmětu
- Předmět je nabízen i studentům mimo mateřské obory.
- Mateřské obory/plány
- předmět má 9 mateřských oborů, zobrazit
- Cíle předmětu
- Studenti by měli po úspěšném absolvování kurzu být schopni popsat konstrukci elektronových mikroskopů, charakterizovat jednotlivé fyzikální procesy nutné k tvorbě obrazu, diskutovat funkce jednotlivých částí aparatury a posoudit vhodnost různých typů EM pro měření konkrétních vzorků.
- Výstupy z učení
- Po úspěšném dokončení tohoto kurzu budou studenti schopni:
– popsat konstrukci jednotlivých typů elektronových mikroskopů,
– popsat jednotlivé části elektronových mikroskopů,
– vysvětlit generování elektronů,
– vysvětlit interakci elektronů se vzorkem a měření výstupního signálu pomocí detektorů,
– popsat komory a stolky v mikroskopech a manipulaci se vzorkem. - Osnova
- Výběrová přednáška se zabývá elektronovou mikroskopií a příbuznými metodami jak z pohledu fyzikálních principů, konstrukce a výroby přístrojů ale i z hlediska praktického využití uživateli přístrojů.
- 1. Základy rastrovací a transmisní elektronové mikroskopie
- 2. Použití elektronové mikroskopie
- 3. Elektronová a iontová optika
- 4. Elektronové a iontové zdroje
- 5. Interakce elektronů a iontů s pevnou látkou
- 6. Detekce signálu v elektronové mikroskopii
- 7. Vakuový systém
- 8. Manipulace s preparátem v elektronovém mikroskopu
- 9. Speciální stolky preparátu
- 10. Mikroskop jako systém
- 11. Kontrast a obraz 1. (SEM)
- 12. Kontrast a obraz 2 (TEM)
- 13. Mikroskop jako laboratoř
- 14. Moderní trendy v elektronové mikroskopii
- 15. Praktická ukázka
- Výukové metody
- přednášky + praktická lekce
- Metody hodnocení
- Zápočet udělí vyučující kurzu na základě kolokvia.
- Informace učitele
- Vyučující:
Ing. Tomáš Vystavěl, Ph.D. (přednášející) RNDr. Lubomír Tůma (zástupce) a kolektiv
Literatura:
Goldstein, Joseph I. Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis. 3rd ed. New York : Kluwer Academic/Plenum publishers, 2003. xix, 689 s. ISBN 0-306-47292-9
Reimer, Ludwig Scanning Electron Microscopy - Physics of Image Formation and Microanalysis 1998, Springer, ISBN 978-3-540-63976-3
Reimer, Ludwig, Kohl, Helmut Transmission Electron Microscopy - Physics of Image Formation, 2008, Springer, ISBN 978-0-387-40093-8 - Další komentáře
- Předmět je vyučován každoročně.
Výuka probíhá každý týden.
- Statistika zápisu (nejnovější)
- Permalink: https://is.muni.cz/predmet/sci/podzim2024/F7850