F6390 Praktikum z pevných látek (1b)

Přírodovědecká fakulta
jaro 2020
Rozsah
0/3/0. 5 kr. (plus ukončení). Ukončení: z.
Vyučující
doc. Mgr. Ondřej Caha, Ph.D. (cvičící)
doc. RNDr. Jan Celý, CSc. (cvičící)
doc. RNDr. Petr Mikulík, Ph.D. (cvičící)
Mgr. Jiří Novák, Ph.D. (cvičící)
Mgr. Mojmír Meduňa, Ph.D. (náhr. zkoušející)
Garance
doc. Mgr. Ondřej Caha, Ph.D.
Ústav fyziky kondenzovaných látek – Fyzikální sekce – Přírodovědecká fakulta
Kontaktní osoba: doc. Mgr. Ondřej Caha, Ph.D.
Dodavatelské pracoviště: Ústav fyziky kondenzovaných látek – Fyzikální sekce – Přírodovědecká fakulta
Rozvrh seminárních/paralelních skupin
F6390/01: St 15:00–17:50 Fpk,04013, O. Caha, J. Celý, M. Meduňa, P. Mikulík, J. Novák
Předpoklady
F2180 Fyzikální praktikum 1 && F3240 Fyzikální praktikum 2 && F4210 Fyzikální praktikum 3
Omezení zápisu do předmětu
Předmět je nabízen i studentům mimo mateřské obory.
Mateřské obory/plány
Cíle předmětu
Kurz seznámuje studenty se základními experimentálními metodami fyziky pevných látek (návody k jednotlivým úlohám jsou na webové stránce předmětu). Zvláště pak s metodami rentgenové difrakce a reflexe, optickou reflektometrií a elipsometrií, elektronovou mikroskopií, měřením Hallova jevu a základy práce v čistých prostorách.
Výstupy z učení
Hlavním cílem předmětu je umožnit studentům
- popsat a vysvětlit vybrané základní experimentální techniky fyziky pevných látek
- samostatně aplikovat tyto postupy při měření základních veličin důležitých ve fyzice pevných látek.
Osnova
  • Seznam úloh:
    A. Analýza tenké kovové vrstvy: měření tloušťky rtg. reflektometrií, Hallova jevu, měření optické odezvy elipsometrií.
    B. Analýza práškového vzorku: krystalová struktura rtg difraktometrií a chemické složení rtg fluorescencí.
    C. Analýza vrstvy oxidu křemíku: elipsometrické určení tloušťky a indexu lomu, optická odrazivost.
    D. Analýza křemíkového vzorku: optická odrazivost a rtg difrakční určení orientace vzorku.
    E. Studium povrchů pomocí SEM.
    F. Teplotní závislost elektrické vodivosti supravodiče.
    G. Mikroelektronika v čistých prostorách a principy fotolitografie.
Literatura
  • ASHCROFT, Neil W. a N. David MERMIN. Solid state physics. South Melbourne: Brooks/Cole, 1976, xxi, 826 s. ISBN 0-03-083993-9. info
  • KITTEL, Charles. Úvod do fyziky pevných látek. 1. vyd. Praha: Academia, 1985, 598 s. URL info
Výukové metody
Laboratorní cvičení
Metody hodnocení
Výuka je povinná. Podmínkou zápočtu je odevzdat 7 otestovaných protokolů. Celkové hodnocení se určuje z hodnocení jednotlivých protokolů. Odevzdávání a ústní testování protokolů po dohodě s vyučujícím příslušné úlohy.
Informace učitele
http://www.physics.muni.cz/kfpf/Vyuka/
Úvodní hodina se bude konat první týden v semestru podle rozvrhu. Součástí úvodní hodiny bude školení o bezpečnosti práce s rtg. zářením, které je třeba absolvovat před měřením úloh s rtg zářením. Dále pak informační pokyny a rozlosování vzorků. Aktuální návody k měření je možné najít na: http://www.physics.muni.cz/ufkl/Vyuka/ V období červen až září 2020 proběhne bloková výuka předmětu, nahrazující výuku zmeškanou z důvodu koronavirové epidemie.
Další komentáře
Studijní materiály
Předmět je vyučován každoročně.
Předmět je zařazen také v obdobích jaro 2008 - akreditace, jaro 2011 - akreditace, jaro 2000, jaro 2001, jaro 2002, jaro 2003, jaro 2004, jaro 2006, jaro 2007, jaro 2008, jaro 2009, jaro 2010, jaro 2011, jaro 2012, jaro 2012 - akreditace, jaro 2013, jaro 2014, jaro 2015, jaro 2016, jaro 2017, jaro 2018, jaro 2019, jaro 2021, jaro 2022, jaro 2023, jaro 2024, jaro 2025.