PřF:F6390 Praktikum z pevných látek (1b) - Informace o předmětu
F6390 Praktikum z pevných látek (1b)
Přírodovědecká fakultajaro 2019
- Rozsah
- 0/3/0. 5 kr. (plus ukončení). Ukončení: z.
- Vyučující
- RNDr. Luděk Bočánek, CSc. (cvičící)
doc. Mgr. Ondřej Caha, Ph.D. (cvičící)
doc. RNDr. Jan Celý, CSc. (cvičící)
doc. RNDr. Petr Mikulík, Ph.D. (cvičící)
Mgr. Jiří Novák, Ph.D. (cvičící)
Mgr. Mojmír Meduňa, Ph.D. (náhr. zkoušející) - Garance
- prof. RNDr. Josef Humlíček, CSc.
Ústav fyziky kondenzovaných látek – Fyzikální sekce – Přírodovědecká fakulta
Kontaktní osoba: doc. Mgr. Ondřej Caha, Ph.D.
Dodavatelské pracoviště: Ústav fyziky kondenzovaných látek – Fyzikální sekce – Přírodovědecká fakulta - Rozvrh
- Po 18. 2. až Pá 17. 5. Čt 13:00–15:50 Fpk,04013
- Předpoklady
- F2180 Fyzikální praktikum 1 && F3240 Fyzikální praktikum 2 && F4210 Fyzikální praktikum 3
- Omezení zápisu do předmětu
- Předmět je nabízen i studentům mimo mateřské obory.
- Mateřské obory/plány
- Cíle předmětu
- Kurz seznámuje studenty se základními experimentálními metodami fyziky pevných látek (návody k jednotlivým úlohám jsou na webové stránce předmětu). Zvláště pak s metodami rentgenové difrakce a reflexe, optickou reflektometrií a elipsometrií, elektronovou mikroskopií, měřením Hallova jevu a základy práce v čistých prostorách.
- Výstupy z učení
- Hlavním cílem předmětu je umožnit studentům
- popsat a vysvětlit vybrané základní experimentální techniky fyziky pevných látek
- samostatně aplikovat tyto postupy při měření základních veličin důležitých ve fyzice pevných látek. - Osnova
- Seznam úloh:
A. Analýza tenké kovové vrstvy: měření tloušťky rtg. reflektometrií, Hallova jevu, měření optické odezvy elipsometrií.
B. Analýza práškového vzorku: krystalová struktura rtg difraktometrií a chemické složení rtg fluorescencí.
C. Analýza vrstvy oxidu křemíku: elipsometrické určení tloušťky a indexu lomu, optická odrazivost.
D. Analýza křemíkového vzorku: optická odrazivost a rtg difrakční určení orientace vzorku.
E. Studium povrchů pomocí SEM.
F. Teplotní závislost elektrické vodivosti supravodiče.
G. Mikroelektronika v čistých prostorách a principy fotolitografie.
- Seznam úloh:
- Literatura
- Výukové metody
- Laboratorní cvičení
- Metody hodnocení
- Výuka je povinná. Podmínkou zápočtu je odevzdat 7 otestovaných protokolů. Celkové hodnocení se určuje z hodnocení jednotlivých protokolů. Odevzdávání a ústní testování protokolů po dohodě s vyučujícím příslušné úlohy.
- Informace učitele
- http://www.physics.muni.cz/kfpf/Vyuka/
Úvodní hodina se bude konat první týden v semestru podle rozvrhu. Součástí úvodní hodiny bude školení o bezpečnosti práce s rtg. zářením, které je třeba absolvovat před měřením úloh s rtg zářením. Dále pak informační pokyny a rozlosování vzorků. Aktuální návody k měření je možné najít na: http://www.physics.muni.cz/ufkl/Vyuka/ - Další komentáře
- Studijní materiály
Předmět je vyučován každoročně.
- Statistika zápisu (jaro 2019, nejnovější)
- Permalink: https://is.muni.cz/predmet/sci/jaro2019/F6390