F7850 Vybrané kapitoly z elektronové mikroskopie

Přírodovědecká fakulta
jaro 2020
Rozsah
2/0. 2 kr. (plus ukončení). Ukončení: z.
Vyučující
RNDr. Lubomír Tůma (přednášející), Mgr. Filip Münz, PhD. (zástupce)
Ing. Tomáš Vystavěl, PhD. (přednášející), doc. RNDr. Petr Mikulík, Ph.D. (zástupce)
Garance
prof. RNDr. Jana Musilová, CSc.
Ústav fyziky kondenzovaných látek – Fyzikální sekce – Přírodovědecká fakulta
Kontaktní osoba: doc. RNDr. Petr Mikulík, Ph.D.
Dodavatelské pracoviště: Ústav fyziky kondenzovaných látek – Fyzikální sekce – Přírodovědecká fakulta
Rozvrh
Čt 14:00–15:50 F1 6/1014
Omezení zápisu do předmětu
Předmět je nabízen i studentům mimo mateřské obory.
Mateřské obory/plány
předmět má 9 mateřských oborů, zobrazit
Cíle předmětu
Studenti by měli po úspěšném absolvování kurzu být schopni popsat konstrukci elektronových mikroskopů, charakterizovat jednotlivé fyzikální procesy nutné k tvorbě obrazu, diskutovat funkce jednotlivých částí aparatury a posoudit vhodnost různých typů EM pro měření konkrétních vzorků.
Osnova
  • Výběrová přednáška se zabývá elektronovou mikroskopií a příbuznými metodami jak z pohledu fyzikálních principů, konstrukce a výroby přístrojů ale i z hlediska praktického využití uživateli přístrojů.
  • 1. Základy rastrovací a transmisní elektronové mikroskopie
  • 2. Použití elektronové mikroskopie
  • 3. Elektronová a iontová optika
  • 4. Elektronové a iontové zdroje
  • 5. Interakce elektronů a iontů s pevnou látkou
  • 6. Detekce signálu v elektronové mikroskopii
  • 7. Vakuový systém
  • 8. Manipulace s preparátem v elektronovém mikroskopu
  • 9. Speciální stolky preparátu
  • 10. Mikroskop jako systém
  • 11. Kontrast a obraz 1. (SEM)
  • 12. Kontrast a obraz 2 (TEM)
  • 13. Mikroskop jako laboratoř
  • 14. Moderní trendy v elektronové mikroskopii
  • 15. Praktická ukázka
Výukové metody
přednášky + praktická lekce
Metody hodnocení
Zápočet udělí vyučující kurzu na základě kolokvia.
Informace učitele
Vyučující:
Ing. Tomáš Vystavěl, Ph.D. (přednášející) RNDr. Lubomír Tůma (zástupce) a kolektiv

Literatura:
Goldstein, Joseph I. Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis. 3rd ed. New York : Kluwer Academic/Plenum publishers, 2003. xix, 689 s. ISBN 0-306-47292-9
Reimer, Ludwig Scanning Electron Microscopy - Physics of Image Formation and Microanalysis 1998, Springer, ISBN 978-3-540-63976-3
Reimer, Ludwig, Kohl, Helmut Transmission Electron Microscopy - Physics of Image Formation, 2008, Springer, ISBN 978-0-387-40093-8
Další komentáře
Studijní materiály
Předmět je vyučován jednou za dva roky.
S.
Předmět je zařazen také v obdobích jaro 2012, jaro 2012 - akreditace, jaro 2013, jaro 2014, jaro 2015, jaro 2016, jaro 2018, jaro 2022, podzim 2024.