PřF:F7030 Rtg rozptyl na tenkých vrst. - Informace o předmětu
F7030 Rentgenový rozptyl na tenkých vrstvách
Přírodovědecká fakultapodzim 2001
- Rozsah
- 2/0/0. 2 kr. Ukončení: k.
- Vyučující
- prof. RNDr. Václav Holý, CSc. (přednášející)
- Garance
- prof. RNDr. Josef Humlíček, CSc.
Ústav fyziky kondenzovaných látek – Fyzikální sekce – Přírodovědecká fakulta
Kontaktní osoba: prof. RNDr. Václav Holý, CSc. - Předpoklady
- Dobré znalosti fyziky pevných látek a optiky
- Omezení zápisu do předmětu
- Předmět je nabízen i studentům mimo mateřské obory.
- Mateřské obory/plány
- Cíle předmětu
- Přednáška se zabývá rtg difrakcí a rtg reflexí na tenkých vrstvách s důrazem na studium defektů v polovodičových heterostruktur a jejich rozhraní
- Osnova
- 1. Elementární popis vlnového pole Rtg vlna ve vakuu Greenova funkce volné částice, reprezentace rovinnými vlnami Rozptyl vlnění, diferenciální účinný průřez Směr vlny rozptýlené na tenké vrstvě nekonečných laterálních rozměrů Klasifikace teorií rozptylu 2. Kinematická teorie rozptylu na ideálních strukturách Rozptyl na atomu Rozptyl na malém krystalu Rozptyl na tenké vrstvě, rtg difrakce, rtg reflexe Empirické započtení lomu a absorpce 3. Kinematická rtg difrakce na porušených tenkých vrstvách Homogenní deformace, pseudomorfní a relaxované vrstvy Periodické supermřížky Náhodná deformace, koherentní a nekoherentní rozptyl Laterální struktury 4. Dynamická teorie rozptylu Rovnice pro vlny v krystalu Dispersní plochy Okrajové podmínky na povrchu krystalu Jednovlnová aproximace, rtg reflexe Dvouvlnová aproximace, rtg difrakce Nekoplanární difrakce 5. Rtg reflexe na drsných rozhraních Statistický popis drsnosti Fraktálová drsnost Samouspořádané struktury Koherentní reflexe na drsných rozhraních Difuzní rozptyl na drsných rozhraních 6. Experimentální aspekty Zdroje rtg záření Rtg difraktometr, rozlišovací funkce v reciprokém prostoru Rtg detektory
- Literatura
- HOLÝ, Václav, U. PIETSCH a T. BAUMBACH. High-resolution x-ray scattering from thin films and multilayers. Germany Berlin: High-resolution x-ray scattering from thin films and multilayers, 1998, 256 s. Springer Tracts in Modern Physics. ISBN 3-540-62029-X. info
- Metody hodnocení
- přednáška ukončená kolokviem
- Další komentáře
- Předmět je dovoleno ukončit i mimo zkouškové období.
Předmět je vyučován každoročně.
Výuka probíhá každý týden.
- Statistika zápisu (podzim 2001, nejnovější)
- Permalink: https://is.muni.cz/predmet/sci/podzim2001/F7030