F7030 Rentgenový rozptyl na tenkých vrstvách

Přírodovědecká fakulta
podzim 2010
Rozsah
2/0/0. 1 kr. (plus ukončení). Ukončení: k.
Vyučující
prof. RNDr. Václav Holý, CSc. (přednášející)
Garance
prof. RNDr. Josef Humlíček, CSc.
Ústav fyziky kondenzovaných látek – Fyzikální sekce – Přírodovědecká fakulta
Kontaktní osoba: prof. RNDr. Václav Holý, CSc.
Předpoklady
Dobré znalosti fyziky pevných látek a optiky
Omezení zápisu do předmětu
Předmět je nabízen i studentům mimo mateřské obory.
Mateřské obory/plány
Cíle předmětu
Cílem předmětu je umožnit studentům
- popsat a vysvětlit základní zákonitosti rtg difrakcí a rtg reflexí na tenkých vrstvách
- aplikovat tyto znalosti na studium defektů v polovodičových heterostrukturách a jejich rozhraní
Osnova
  • 1. Elementární popis vlnového pole Rtg vlna ve vakuu Greenova funkce volné částice, reprezentace rovinnými vlnami Rozptyl vlnění, diferenciální účinný průřez Směr vlny rozptýlené na tenké vrstvě nekonečných laterálních rozměrů Klasifikace teorií rozptylu 2. Kinematická teorie rozptylu na ideálních strukturách Rozptyl na atomu Rozptyl na malém krystalu Rozptyl na tenké vrstvě, rtg difrakce, rtg reflexe Empirické započtení lomu a absorpce 3. Kinematická rtg difrakce na porušených tenkých vrstvách Homogenní deformace, pseudomorfní a relaxované vrstvy Periodické supermřížky Náhodná deformace, koherentní a nekoherentní rozptyl Laterální struktury 4. Dynamická teorie rozptylu Rovnice pro vlny v krystalu Dispersní plochy Okrajové podmínky na povrchu krystalu Jednovlnová aproximace, rtg reflexe Dvouvlnová aproximace, rtg difrakce Nekoplanární difrakce 5. Rtg reflexe na drsných rozhraních Statistický popis drsnosti Fraktálová drsnost Samouspořádané struktury Koherentní reflexe na drsných rozhraních Difuzní rozptyl na drsných rozhraních 6. Experimentální aspekty Zdroje rtg záření Rtg difraktometr, rozlišovací funkce v reciprokém prostoru Rtg detektory
Literatura
  • HOLÝ, Václav, U. PIETSCH a T. BAUMBACH. High-resolution x-ray scattering from thin films and multilayers. Germany Berlin: High-resolution x-ray scattering from thin films and multilayers, 1998, 256 s. Springer Tracts in Modern Physics. ISBN 3-540-62029-X. info
Výukové metody
přednášky s diskuzí
Metody hodnocení
kolokvium
Další komentáře
Předmět je dovoleno ukončit i mimo zkouškové období.
Předmět je vyučován každoročně.
Výuka probíhá každý týden.
Předmět je zařazen také v obdobích podzim 2007 - akreditace, podzim 2010 - akreditace, podzim 2000, podzim 2001, podzim 2002, podzim 2003, podzim 2004, podzim 2005, podzim 2006, podzim 2007, podzim 2008, podzim 2009, podzim 2011, podzim 2011 - akreditace, jaro 2012 - akreditace, podzim 2012, podzim 2013, podzim 2014, podzim 2015, podzim 2016, podzim 2017, podzim 2018, podzim 2019, podzim 2020, podzim 2021, podzim 2022, podzim 2023, podzim 2024.