Průchod studijním plánem

A – Zkouška z fyzikální optiky. Při zkoušce má uchazeč prokázat porozumění fyzikálním principům elektronové a světelné optiky, a to fyzikálním základům jak příslušné teorie, tak i aplikačních metod a komponent optických přístrojů. Zkouškou prokazuje, že si osvojil teoretické dovednosti potřebné pro výkon fyzika ve své nastávající profesi. Pro přípravu ke zkoušce budou mít studenti zadáno několik širokých okruhů otázek zahrnující fyzikální principy optiky, optiku elektromagnetického záření, částicovou optiku, fyziku zdrojů a detektorů, fyzikální principy zobrazovacích metod. Zkouška je ústní.

B – Zkouška z mikroskopie. Při zkoušce má uchazeč prokázat porozumění metodám elektronové a světelné mikroskopie, jejich fyzikální podstatě a praktickým aplikacím pro výzkum a vývoj přístrojů, a dále principům souvisejících zařízení a jejich komponentám. Zkouškou prokazuje, že si osvojil praktické dovednosti i základní znalosti potřebné pro výkon fyzika ve výzkumu a výrobě nutnými pro rozvoj mikroskopických technik či pro výkon aplikačního specialisty v nastávající profesi. Zkouška je ústní.

C – Obhajoba diplomové práce. Při obhajobě student prokáže porozumění zvolené problematice, schopnost referovat o svých výzkumných výsledcích a argumentovat v diskusi.

Student se připravuje řádně v oblasti teoretické i praktické výuky, dbá na pochopení experimentálních metod a na správné zpracování a analýze dat získaných při praktické výuce.

Návrhy témat budoucích diplomových prací budou podobné tématům, které v oblasti zájmu tohoto studijního programu byly obhájeny v nedávné době, například:

– Určování struktury proteinů s flexibilními doménami pomocí kryo-elektronové mikroskopie
– Charakterizace neutralizace Flavivirů protilátkami pomocí kryo-elektronové mikroskopie
– Implementace pokročilých metod korekce pohybu preparátu v elektronovém mikroskopu
– Fabrication and characterization of a thin film electron biprism
– Tepelně asistovaná fotoemise na 405 nm
– Studium struktury hydrogelů pomocí cryo-SEM
– Vývoj a charakterizace nosných filmů pro kvantitativní zobrazování v rastrovací prozařovací elektronové mikroskopii